Манько А.Н., Ярыгин А.П.
Россия, г. Воронеж
ФГКВОУВПО «НИИЦ РЭБ ОЭСЗ»
На основе статистической обработки результатов экспериментальных исследований стойкости полупроводниковых приборов к сверхкороткоимульсному полевому воздействию получено эмпирическое соотношение, связывающее дозу энергии воздействующих импульсов с длительностью импульсов, частотой их следования и временем облучения. В работе обоснована необходимость дополнения существующих стандартов по стойкости полупроводниковой элементной базы к наносекундным импульсным помехам более широкой номенклатурой тестовых сигналов с учётом доз облучения и эффектов накопления энергии последовательности импульсов в полупроводниковых приборах.
[wpvoting]